|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Item reliability based on a paucity of item failures |
| Auteur: |
Gross, Alan J. Rust, Philip F. |
| Verschenen in: |
Communications in statistics |
| Paginering: | Jaargang 16 (1987) nr. 10 pagina's 2981-2990 |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: |
When item reliability is high, lot acceptance sampling is likely to uncover no defective units. Nevertheless, the reliability lower confidence limits are often disappointing. The use of a Bayesian procedure with certain beta priors produces tighter confidence limits. The case where one observed defective is permitted in accepting a lot is also examined. Numerical results for both cases are presented. In addition, the impact of item misclassification is addressed. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |