|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Accelerated life tests under competing weibull causes of failure |
| Auteur: |
Klein, John P. Basu, Asit P. |
| Verschenen in: |
Communications in statistics |
| Paginering: | Jaargang 11 (1982) nr. 20 pagina's 2271-2286 |
| Jaar: |
1982 |
| Inhoud: |
Accelerated life testing of a product under more severe than normal conditions is cawiionly used to reduce test time and cost. Data collected at such accelerated conditions is used to obtain estimates of parameters of a stress translation function which is then used to make inference about the product's, per" formance under normal conditions. This problem is considered when the product is a p component series system with WeibuH distributed component lifetimes liaving a caimon shape parameter. A general stress translation function is used and estimates of model parameters are obtained for various censoring schemes. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |