Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Critical values for testing for a single outlier in a nonlinear regression model
 
 
Titel: Critical values for testing for a single outlier in a nonlinear regression model
Auteur: Fung, Wing K.
Ngai, M. C.
Verschenen in: Communications in statistics
Paginering: Jaargang 27 (1998) nr. 1 pagina's 95-105
Jaar: 1998
Inhoud: The maximum absolute studentized residual is commonly used for testing for a single outlier in a linear regression model. This test statistic, however, is seldom discussed in a nonlinear regression setting. We simulate the critical values for the tests under various nonlinear models. The associated critical values are found to be very close to one another. Moreover, they are very well approximated using the critical values obtained from F-distributions based on the Bonferroni equations in linear models. The results are promising even in samples of size 6.
Uitgever: Taylor & Francis
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland