|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
W-test for the weibull distribution |
| Auteur: |
Shapiro, Samuel S. Brain, Carlos W. |
| Verschenen in: |
Communications in statistics |
| Paginering: | Jaargang 16 (1987) nr. 1 pagina's 209-219 |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: |
A new goodness-of-fit test for the two-parameter Weibull distribution or extreme-value (smallest element) distribution with unknown parameters is presented in this paper. The test statistic is based on similar principles used in the derivation of the well known W test for normality. The test statistic is simple to compute and requires no table of constants. Percentiles and power for a wide variety of alternative distributions are estimated via simulation. A comparison of the proposed test with the Mann-Scheuer-Fertig procedure shows that the power of the test for the former is as high or higher than that for the latter. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 19 gevonden artikelen
| << vorige |