|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion Microscopy with Resonant Ionization Mass Spectrometry: Time-of-Flight Depth Profiling with Improved Isotopic Precision |
| Auteur: |
Pellin, Michael J. Veryovkin, Igor V. Levine, Jonathan Zinovev, Alexander Davis, Andrew M. Stephan, Thomas Tripa, C. Emil King, Bruce V. Savina, Michael R. |
| Verschenen in: |
European journal of mass spectrometry |
| Paginering: | Jaargang 16 (2010) nr. 3 pagina's 373-377 |
| Jaar: |
2010-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SAGE Publications, Sage UK: London, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |