|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
An image–temperature model of a microprobe used in wafer testing constructed by particle swarm optimization algorithm |
| Auteur: |
Chiang, Yuan-Ching Chiu, Jinn-Tong Chang, Zhi-Jie Chang, Dar-Yuan |
| Verschenen in: |
Proceedings of the institution of mechanical engineers. Part C: Journal of mechanical engineering science |
| Paginering: | Jaargang 231 (2017) nr. 18 pagina's 3429-3442 |
| Jaar: |
2017-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SAGE Publications, Sage UK: London, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |