|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning electron microscopy study of failure in glass-sealed SiC/SiC-based composite (NUSK-CMC) creep tested at 1100 and 1200°C in air |
| Auteur: |
Davies, I. J. Ogasawara, T. Ishikawa, T. |
| Verschenen in: |
Advanced composite materials |
| Paginering: | Jaargang 10 (2001) nr. 4 pagina's 357-367 |
| Jaar: |
2001-12-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |