|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurements of Microwave Dielectric Properties of (1-x)TiO2-xCaTiO3 and (1-x)TiO2-xSrTiO3 thin Films By The Cavity Perturbation Method |
| Auteur: |
Sheen, J. Li, C.-Y. Lin, S.-W. |
| Verschenen in: |
Journal of electromagnetic waves and applications |
| Paginering: | Jaargang 25 (2011) nr. 13 pagina's 1886-1894 |
| Jaar: |
2011-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |