|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Thin Film Materials Characterization Using TE Modes Cavity |
| Auteur: |
Le Floch, J.-M.School of Physics, University of Western Australia, 35 Stirling Hwy, Crawley, Western Australia, XLIM, UMR CNRS No. 6172-123, Avenue A. Thomas, Limoges Cedex 87060, France;, Email: lefloch@cyllene.uwa.edu.au Houndonougbo, F.XLIM, UMR CNRS No. 6172-123, Avenue A. Thomas, Limoges Cedex 87060, France Madrangeas, V.XLIM, UMR CNRS No. 6172-123, Avenue A. Thomas, Limoges Cedex 87060, France Cros, D.XLIM, UMR CNRS No. 6172-123, Avenue A. Thomas, Limoges Cedex 87060, France Guilloux-Viry, M.Unité Sciences Chimiques de Rennes, UMR 6226 CNRS, Université de Rennes 1, Campus de Beaulieu, Rennes Cedex 35042, France Peng, W.Unité Sciences Chimiques de Rennes, UMR 6226 CNRS, Université de Rennes 1, Campus de Beaulieu, Rennes Cedex 35042, France |
| Verschenen in: |
Journal of electromagnetic waves and applications |
| Paginering: | Jaargang 23 (2009) nr. 4 pagina's 549-559 |
| Jaar: |
2009-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |