|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
A time-of-flight static secondary ion mass spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy study of 3-aminopropyltrihydroxysilane on water plasma treated chromium and silicon surfaces |
| Auteur: |
Eldridge, B.N. Buchwalter, L.P. Chess, C.A. Goldberg, M.J. Goldblatt, R.D. Novak, F.P. |
| Verschenen in: |
Journal of adhesion science and technology |
| Paginering: | Jaargang 6 (1992) nr. 1 pagina's 109-125 |
| Jaar: |
1992-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |