|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of atomic force microscopy data for deformable materials |
| Auteur: |
Rutland, Mark Tyrrell, James Attard, Phil |
| Verschenen in: |
Journal of adhesion science and technology |
| Paginering: | Jaargang 18 (2004) nr. 10 pagina's 1199-1215 |
| Jaar: |
2004-09-15 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |