|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Adhesion measurement of thin films to a porous low dielectric constant film using a modified tape test |
| Auteur: |
Goh, L. L. N. Toh, S. L. Chooi, S. Y.M. Tay, T. E. |
| Verschenen in: |
Journal of adhesion science and technology |
| Paginering: | Jaargang 16 (2002) nr. 6 pagina's 729-744 |
| Jaar: |
2002-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
| volgende >> |