|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Time-of-flight SIMS and in-situ XPS study of O2 and O2-N2 post-discharge microwave plasma-modified high-density polyethylene and hexatriacontane surfaces |
| Auteur: |
Leonard, D. Bertrand, P. Scheuer, A. Prat, R. Hommet, J. Le Moigne, J. Deville, J.P. |
| Verschenen in: |
Journal of adhesion science and technology |
| Paginering: | Jaargang 10 (1996) nr. 11 pagina's 1165-1197 |
| Jaar: |
1996-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |