|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
High Resolution Electron Microscopy of a Small Crack at the Superficial Layer of Enamel |
| Auteur: |
Hayashi, Yoshihiko |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 43 (1994) nr. 6 pagina's 398-401 |
| Jaar: |
1994-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |