|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
System for In Situ Observation and Chemical Analysis of Materials during Dual-Ion Beam Irradiation in an Electron Microscope |
| Auteur: |
Furuno, Shigemi Hojou, Kiichi Otsu, Hitoshi Sasaki, Teikichi A. Izui, Kazuhiko Tsukamoto, Tetsuo Hata, Takao |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 41 (1992) nr. 4 pagina's 273-276 |
| Jaar: |
1992-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |