|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 4 gevonden artikelen
| Titel: |
Identification of Lattice Defects by Convergent-Beam Electron Diffraction |
| Auteur: |
Tanaka, Michiyoshi Terauchi, Masami Kaneyama, Toshikatsu |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 40 (1991) nr. 4 pagina's 211-220 |
| Jaar: |
1991-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 4 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |