|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of Fresnel Diffraction on Measurement of Degree of Coherence of Electron Beam with Electron Biprism |
| Auteur: |
OHSHITA, Akinori TERAOKA, Hiroki MAMETANI, Yukihiro TOMITA, Hiroshi |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 35 (1986) nr. 2 pagina's 111-117 |
| Jaar: |
1986-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |