|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the Displacement Vector of Planar Defects in a-Silicon Nitride Whisker by Means of High Resolution Electron Microscopy |
| Auteur: |
SASAKI, Katsuhiro KURODA, kotaro IMURA, Toiu SAKA, Hiroyasu KAMINO, Takeo |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 34 (1985) nr. 4 pagina's 414-418 |
| Jaar: |
1985-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |