|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Specimen Chamber Geometry—A Possible Source of Error in Quantitative X-Ray Microanalysis in STEM |
| Auteur: |
GROTE, Monika FROMME, Hans Georg |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 30 (1981) nr. 4 pagina's 359-361 |
| Jaar: |
1981-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |