|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of X-ray Pendellösung intensity beats in diffracted white radiation from silicon wafers |
| Auteur: |
Takama, T. Iwasaki, M. Sato, S. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Crystal physics, diffraction, theoretical and general crystallography |
| Paginering: | Jaargang 36 (1980) nr. 6 pagina's 1025-1030 |
| Jaar: |
1980-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |