|
A method of determining the order parameter from thickness fringes in electron micrographs |
|
|
|
Titel: |
A method of determining the order parameter from thickness fringes in electron micrographs |
Auteur: |
Kinoshita, C. Mukai, T. Kitajima, S. |
Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Crystal physics, diffraction, theoretical and general crystallography |
Paginering: |
Jaargang 33 (1977) nr. 4 pagina's 605-609 |
Jaar: |
1977-07-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|