|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Synchrotron-radiation X-ray topography of surface strain in large-diameter silicon wafers |
| Auteur: |
Kawado, S. Iida, S. Yamaguchi, S. Kimura, S. Hirose, Y. Kajiwara, K. Chikaura, Y. Umeno, M. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 9 (2002) nr. 3 pagina's 166-168 |
| Jaar: |
2002-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |