|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Fast residual stress mapping using energy-dispersive synchrotron X-ray diffraction on station 16.3 at the SRS |
| Auteur: |
Korsunsky, Alexander M. Collins, Steve P. Owen, R. Alexander Daymond, Mark R. Achtioui, Saïda James, Karen E. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 9 (2002) nr. 2 pagina's 77-81 |
| Jaar: |
2002-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |