|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 308 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of an in situ polarization-dependent total-reflection fluorescence XAFS measurement system |
| Auteur: |
Chun, Wang-Jae Tanizawa, Yasuhiro Shido, Takafumi Iwasawa, Yasuhiro Nomura, Masaharu Asakura, Kiyotaka |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 8 (2001) nr. 2 pagina's 168-172 |
| Jaar: |
2001-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 308 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |