|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Extraction of accurate structure-factor amplitudes from Laue data: wavelength normalization with wiggler and undulator X-ray sources |
| Auteur: |
Šrajer, Vukica Crosson, Sean Schmidt, Marius Key, Jason Schotte, Friedrich Anderson, Spencer Perman, Benjamin Ren, Zhong Teng, T.Y. Bourgeois, Dominique Wulff, Michael Moffat, Keith |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 7 (2000) nr. 4 pagina's 236-244 |
| Jaar: |
2000-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |