|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 219 van 243 gevonden artikelen
| Titel: |
XAFS studies of Rh nanostructures on porous silicon |
| Auteur: |
Zhu, Y.-J. Coulthard, I. Sham, T. K. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 6 (1999) nr. 3 pagina's 529-531 |
| Jaar: |
1999-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 219 van 243 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |