|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 216 van 243 gevonden artikelen
| Titel: |
XAFS studies of Al/TiNx films on Si(100) at the Al K- and L3,2-edge |
| Auteur: |
Zou, Z. Hu, Y. F. Sham, T. K. Huang, H. H. Xu, G. Q. Seet, C. S. Chan, L. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 6 (1999) nr. 3 pagina's 524-525 |
| Jaar: |
1999-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 216 van 243 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |