|
Local structures of dilute impurities in Si crystal studied by fluorescence XAFS |
|
|
|
Titel: |
Local structures of dilute impurities in Si crystal studied by fluorescence XAFS |
Auteur: |
Wei, S. Oyanagi, H. Kawanami, H. Sakamoto, K. Sakamoto, T. Saini, N. L. |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 6 (1999) nr. 3 pagina's 573-575 |
Jaar: |
1999-05-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|