|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning X-ray spectrometer for high-resolution Compton profile measurements at ESRF |
| Auteur: |
Suortti, P. Buslaps, T. Fajardo, P. Honkimäki, V. Kretzschmer, M. Lienert, U. McCarthy, J. E. Renier, M. Shukla, A. Tschentscher, Th. Meinander, T. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 6 (1999) nr. 2 pagina's 69-80 |
| Jaar: |
1999-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |