|
Characterization of substrates for use in X-ray multilayer optics |
|
|
|
Titel: |
Characterization of substrates for use in X-ray multilayer optics |
Auteur: |
Lodha, G. S. Yamashita, K. Haga, K. Kunieda, H. Nakajo, N. Nakamura, N. Tamura, K. Tawara, Y. Bennett, J. M. Yu, J. Namba, Y. |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 5 (1998) nr. 3 pagina's 693-695 |
Jaar: |
1998-05-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|