|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 187 van 319 gevonden artikelen
| Titel: |
New methods for semiconductor charge-diffusion-length measurements using synchrotron radiation |
| Auteur: |
Kohagura, J. Cho, T. Hirata, M. Okamura, T. Tamano, T. Yatsu, K. Miyoshi, S. Hirano, K. Maezawa, H. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 5 (1998) nr. 3 pagina's 874-876 |
| Jaar: |
1998-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 187 van 319 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |