|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray Reflectivity Study of Semiconductor Interfaces |
| Auteur: |
Sanyal, M. K. Datta, A. Banerjee, S. Srivastava, A. K. Arora, B. M. Kanakaraju, S. Mohan, S. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 4 (1997) nr. 3 pagina's 185-190 |
| Jaar: |
1997-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| << vorige |