|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Arbitrary thickness profile metrology of low-Z and monolithic material components with a single X-ray projection |
| Auteur: |
Hao, Wenjie Wang, Feixiang Yu, Fucheng Du, Kang Li, Ke Fang, Junxiong Xiao, Tiqiao |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 5 pagina's 1310-1318 |
| Jaar: |
2025-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |