|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum |
| Auteur: |
Lotze, Gudrun Iyer, Anand H. S. Bäcke, Olof Kalbfleisch, Sebastian Colliander, Magnus Hörnqvist |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 5 pagina's 1409-1413 |
| Jaar: |
2024-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |