|
Artifact identification in X-ray diffraction data using machine learning methods |
|
|
|
Titel: |
Artifact identification in X-ray diffraction data using machine learning methods |
Auteur: |
Yanxon, Howard Weng, James Parraga, Hannah Xu, Wenqian Ruett, Uta Schwarz, Nicholas |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 30 () nr. 1 pagina's 137-146 |
Jaar: |
2023-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|