|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution electron time-of-flight spectrometers for angle-resolved measurements at the SQS Instrument at the European XFEL |
| Auteur: |
De Fanis, Alberto Ilchen, Markus Achner, Alexander Baumann, Thomas M. Boll, Rebecca Buck, Jens Danilevsky, Cyril Esenov, Sergey Erk, Benjamin Grychtol, Patrik Hartmann, Gregor Liu, Jia Mazza, Tommaso Montaño, Jacobo Music, Valerija Ovcharenko, Yevheniy Rennhack, Nils Rivas, Daniel Rolles, Daniel Schmidt, Philipp Sotoudi Namin, Hamed Scholz, Frank Viefhaus, Jens Walter, Peter Ziółkowski, Pawel Zhang, Haiou Meyer, Michael |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 29 () nr. 3 pagina's 755-764 |
| Jaar: |
2022-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |