|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
A practical method for determining film thickness using X-ray absorption spectroscopy in total electron yield mode |
| Auteur: |
Isomura, Noritake Oh-ishi, Keiichiro Takahashi, Naoko Kosaka, Satoru |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 6 pagina's 1820-1824 |
| Jaar: |
2021-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |