|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Trace-element XAFS sensitivity: a stress test for a new XRF multi-detector |
| Auteur: |
Carlomagno, Ilaria Antonelli, Matias Aquilanti, Giuliana Bellutti, Pierluigi Bertuccio, Giuseppe Borghi, Giacomo Cautero, Giuseppe Cirrincione, Daniela de Giudici, Giovanni Ficorella, Francesco Gandola, Massimo Giuressi, Dario Medas, Daniela Mele, Filippo Menk, Ralf H. Olivi, Luca Orzan, Giulio Picciotto, Antonino Podda, Francesca Rachevski, Alexandre Rashevskaya, Irina Stebel, Luigi Vacchi, Andrea Zampa, Gianluigi Zampa, Nicola Zorzi, Nicola Meneghini, Carlo |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 6 pagina's 1811-1819 |
| Jaar: |
2021-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |