|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the through-plane profile of vanadium species in hydrated Nafion studied with micro X-ray absorption near-edge structure spectroscopy – proof of concept |
| Auteur: |
Lutz, Christian Hampel, Sven Beuermann, Sabine Turek, Thomas Kunz, Ulrich Garrevoet, Jan Falkenberg, Gerald Fittschen, Ursula |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 6 pagina's 1865-1873 |
| Jaar: |
2021-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |