|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Focus characterization of an X-ray free-electron laser by intensity correlation measurement of X-ray fluorescence |
| Auteur: |
Nakamura, Nami Matsuyama, Satoshi Inoue, Takato Inoue, Ichiro Yamada, Jumpei Osaka, Taito Yabashi, Makina Ishikawa, Tetsuya Yamauchi, Kazuto |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. 5 pagina's 1366-1371 |
| Jaar: |
2020-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |