|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive characterization of TSV etching performance with phase-contrast X-ray microtomography |
| Auteur: |
Li, Ke Deng, Biao Zhang, Haipeng Yu, Fucheng Xue, Yanling Xie, Changqing Ye, Tianchun Xiao, Tiqiao |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. 4 pagina's 1023-1032 |
| Jaar: |
2020-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |