|
A semi-analytical approach for the characterization of ordered 3D nanostructures using grazing-incidence X-ray fluorescence |
|
|
|
Titel: |
A semi-analytical approach for the characterization of ordered 3D nanostructures using grazing-incidence X-ray fluorescence |
Auteur: |
Nikolaev, K. V. Soltwisch, V. Hönicke, P. Scholze, F. de la Rie, J. Yakunin, S. N. Makhotkin, I. A. van de Kruijs, R. W. E. Bijkerk, F. |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 27 () nr. 2 pagina's 386-395 |
Jaar: |
2020-03-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|