|
Full-field spectroscopic measurement of the X-ray beam from a multilayer monochromator using a hyperspectral X-ray camera |
|
|
|
Titel: |
Full-field spectroscopic measurement of the X-ray beam from a multilayer monochromator using a hyperspectral X-ray camera |
Auteur: |
Boone, Matthieu N. Van Assche, Frederic Vanheule, Sander Cipiccia, Silvia Wang, Hongchang Vincze, Laszlo Van Hoorebeke, Luc |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 27 () nr. 1 pagina's 110-118 |
Jaar: |
2020-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|