|
Jitter correction for transmission X-ray microscopy via measurement of geometric moments |
|
|
|
Titel: |
Jitter correction for transmission X-ray microscopy via measurement of geometric moments |
Auteur: |
Wang, Shengxiang Liu, Jianhong Li, Yinghao Chen, Jian Guan, Yong Zhu, Lei |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 26 (2019) nr. 5 pagina's 1808-1814 |
Jaar: |
2019-09-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|