|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 57 gevonden artikelen
| Titel: |
Metrology characterization of ultraprecise bendable mirrors for the European XFEL: from offsite calibration to installation and commissioning |
| Auteur: |
Vannoni, Maurizio Freijo MartÃn, Idoia Smidtchen, Silja Baumann, Thomas M. Meyer, Michael Music, Valerija |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 26 (2019) nr. 4 pagina's 1110-1114 |
| Jaar: |
2019-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 57 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |