|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Native mass spectrometry provides sufficient ion flux for XFEL single-particle imaging |
| Auteur: |
Uetrecht, Charlotte Lorenzen, Kristina Kitel, Matthäus Heidemann, Johannes Robinson Spencer, Jesse Huron Schlüter, Hartmut Schulz, Joachim |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 26 (2019) nr. 3 pagina's 653-659 |
| Jaar: |
2019-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |