|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth-resolved compositional analysis of W/B4C multilayers using resonant soft X-ray reflectivity |
| Auteur: |
Rao, P. N. Goutam, U. K. Kumar, Prabhat Gupta, Mukul Ganguli, Tapas Rai, S. K. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 26 (2019) nr. 3 pagina's 793-800 |
| Jaar: |
2019-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |