|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
A statistical approach to correct X-ray response non-uniformity in microstrip detectors for high-accuracy and high-resolution total-scattering measurements |
| Auteur: |
Kato, Kenichi Tanaka, Yoshihito Yamauchi, Miho Ohara, Koji Hatsui, Takaki |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 26 (2019) nr. 3 pagina's 762-773 |
| Jaar: |
2019-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |