|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Fluorescence intensity monitors as intensity and beam-position diagnostics for X-ray free-electron lasers |
| Auteur: |
Heimann, Philip Reid, Alexander Feng, Yiping Fritz, David |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 26 (2019) nr. 2 pagina's 358-362 |
| Jaar: |
2019-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |