|
Depth-dependent atomic valence determination by synchrotron techniques |
|
|
|
Titel: |
Depth-dependent atomic valence determination by synchrotron techniques |
Auteur: |
Trappen, Robbyn Zhou, Jinling Tra, Vu Thanh Huang, Chih-Yeh Dong, Shuai Chu, Ying-Hao Holcomb, Mikel B. |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 25 (2018) nr. 6 pagina's 1711-1718 |
Jaar: |
2018-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|